[发明专利]用于在空间中的复杂表面上定位点的方法和设备在审
| 申请号： | 201980039649.5 | 申请日： | 2019-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN112334760A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 保罗·科伦巴罗利;丹尼尔·拉斯伯恩;布鲁诺·德尼斯科;亚利山德罗·迪吉罗拉莫 | 申请（专利权）人： | 杰艺科股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 韩鹏;杨明钊 |
| 地址： | 意大利（*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于定位复杂空间表面上的点(例如缺陷)的设备(10)，包括缺陷检测站(12)、定位站(21)(其可以与检查站重合)以及在适用的情况下的修复站(22)。在检测站(12)中，有图像采集组件(25)，该图像采集组件由定位器(15)沿着复杂表面上的预设路径移动，以便在通过合适的算法定义的时刻“I”，沿着该路径采集复杂表面的二维图像。在时刻“I”，采集组件(25)的预定点的空间坐标还与二维图像相关联。在采集的多个图像中搜索缺陷，并且将它们在二维图像中的坐标(X，Y)转换成复杂表面上的空间坐标(x，y，z)(这里称为“缺陷定位过程”)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 空间 中的 复杂 表面上 定位 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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