[发明专利]光传感器及光检测系统在审
| 申请号： | 201980042953.5 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN112385049A | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 宍戸三四郎;町田真一;德原健富;能泽克弥 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | H01L31/0232 | 分类号： | H01L31/0232;H01L27/146 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 安香子 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的目的是提供一种能够进行窄带的摄像的鲁棒且能够便宜地制造的光传感器(100)。光传感器(100)具备：光电变换层(10)；以及长通滤波器(60)，配置在上述光电变换层(10)的上方，有选择地使所入射的光中的具有起始波长(λC)以上的波长的成分透射。上述光电变换层(10)具有对于比上述长通滤波器(60)的上述起始波长(λC)长的第1波长(λ1)呈现第1峰值(Pk1)的光谱灵敏度特性。上述起始波长(λC)下的上述光电变换层(10)的光谱灵敏度是上述第1波长(λ1)下的上述光电变换层(10)的光谱灵敏度的0％以上50％以下。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 检测 系统 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
