[发明专利]地质地层中子孔隙率系统在审
| 申请号： | 201980044969.X | 申请日： | 2019-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN112384829A | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | J.阿巴迪;M.T.萨莱希;伊藤浩二;J.拉斯穆斯;洪晓波 | 申请（专利权）人： | 地质探索系统公司 |
| 主分类号： | G01V5/10 | 分类号： | G01V5/10;G01V5/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王增强 |
| 地址： | 荷兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种方法可以包括接收地质地层中的钻孔的中子数据和密度数据。至少部分地基于中子数据，确定地质地层的层的迁移长度值；至少部分地基于迁移长度值和密度数据来对至少所述层进行正演建模；以及至少部分地基于正演建模输出该层的建模中子数据。 | ||
| 搜索关键词： | 地质 地层 中子 孔隙率 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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