[发明专利]用于回旋加速器的低腐蚀内部离子源在审

专利信息
申请号: 201980045922.5 申请日: 2019-07-01
公开(公告)号: CN112424901A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: R·巴雷拉·阿朗索 申请(专利权)人: 能源环境和技术研究中心
主分类号: H01J27/04 分类号: H01J27/04;H05H7/18
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 於菪珉
地址: 西班牙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种低腐蚀射频离子源,包括:中空主体(11),所述中空主体(11)具有限定圆柱形腔(13)的导电内壁,具有用于形成等离子体的气体的供气入口(14)以及用于将射频能量注入所述腔(13)中的电源入口(21)。膨胀室(16),所述膨胀室(16)借助等离子体出口孔(17)连接到所述腔(13)。离子提取孔口(18),所述离子提取孔口(18)与所述膨胀室(16)接触。同轴导体(15),所述同轴导体(15)设置在所述腔(13)中,平行于其纵向轴,所述同轴导体(15)的一端或两端与所述主体(11)的圆形内壁接触,从而形成同轴共振腔;所述同轴导体(15)具有与所述等离子体出口孔(17)相对并径向地延伸到所述腔(13)中的导电突起(22)。其大幅减少了导电材料的腐蚀。
搜索关键词: 用于 回旋加速器 腐蚀 内部 离子源
【主权项】:
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