[发明专利]自对准高精度光学传感器单元在审
申请号: | 201980049325.X | 申请日: | 2019-07-03 |
公开(公告)号: | CN112805549A | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 凯利·皮克雷尔;查尔斯六世·奥达梅·安克拉;布莱恩·韦恩·罗森特雷特 | 申请(专利权)人: | 全球分析仪系统有限公司 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G02B5/10 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 张天一 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供自对准高精度光学传感器单元,以用于使用高反射光学反射镜以及光源和检测器分析气体样品,检测器耦接在单元的任一端上,在无任何机械操纵的情况下,在将高反射的反射镜与光学单元自对准时具有灵活性和/或可维护性。 | ||
搜索关键词: | 对准 高精度 光学 传感器 单元 | ||
【主权项】:
暂无信息
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