[发明专利]试样支承体、试样的离子化方法及质谱分析方法在审
| 申请号： | 201980050072.8 | 申请日： | 2019-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN112513626A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 泷本未羽;大村孝幸;小谷政弘 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;H01J49/04;H01J49/16 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;尹明花 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种试样支承体，其用于将试样离子化，其中，具备：基板，其上形成有在第一表面及与第一表面相反侧的第二表面开口的多个贯通孔；导电层，其以不堵塞贯通孔的方式设置于第一表面；以及，加强材料，其配置于多个贯通孔中的一部分贯通孔的内部。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 支承 离子化 方法 谱分析 | ||
【主权项】：
暂无信息
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