[发明专利]光检测元件在审

专利信息
申请号: 201980050374.5 申请日: 2019-07-26
公开(公告)号: CN112514100A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: G·费拉拉;清家崇广 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L27/146;H01L27/30
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 于洁;庞东成
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种暗电流降低、且外量子效率提高的光检测元件。光检测元件包含:阳极;阴极;和设置于该阳极与该阴极之间且包含p型半导体材料和n型半导体材料的有源层,有源层的厚度为800nm以上,与有源层的阴极侧表面相接的面的功函数减去n型半导体材料的LUMO的绝对值而得到的值为0.0~0.5eV。此外,上述n型半导体材料具有2.0eV~10.0eV的LUMO的绝对值。
搜索关键词: 检测 元件
【主权项】:
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