[发明专利]光子计数探测器在审

专利信息
申请号: 201980051358.8 申请日: 2019-08-01
公开(公告)号: CN112543878A 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: R·斯特德曼布克;E·勒斯尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘兆君
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种光子计数探测器,所述光子计数探测器包括:第一直接转换层(10),其包括低吸收性直接转换材料(11)和第一电触点(12),所述低吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射(100)转换成第一计数信号;第二直接转换层(20),其包括高吸收性直接转换材料(21)和第二电触点(22),所述高吸收性直接转换材料用于将撞击的高能电磁辐射(100)转换成第二计数信号,所述高吸收性直接转换材料的吸收性比所述低吸收性直接转换材料的吸收性更高;以及载体层(30、30a、30b),其包括与所述第一电触点和所述第二电触点接触的第一端子(31)和第二端子(32)以及被配置为基于所述第一计数信号对所述第二计数信号校正误差的处理电路(35),其中,所述第一直接转换层和所述第二直接转换层被布置为使得所述高能电磁辐射在击中所述第二直接转换层之前透射所述第一直接转换层。
搜索关键词: 光子 计数 探测器
【主权项】:
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