[发明专利]用于损耗均衡的偏置采样方法在审
| 申请号： | 201980052049.2 | 申请日： | 2019-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN112585683A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 戴颖煜;J·朱 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G06F3/06;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 可从存储器组件的一组数据单位采样第一数据单位。所述第一数据单位可为所述一组数据单位的子集。基于与所述第一数据单位相关联的损耗度量从所述第一数据单位确定初始数据单位作为第一候选数据单位。所述损耗度量指示所述第一数据单位的物理损耗的水平。可鉴于所述第一候选数据单位执行损耗均衡操作。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 损耗 均衡 偏置 采样 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司，未经美光科技公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980052049.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
