[发明专利]用于多个带电粒子束的装置在审
申请号: | 201980053848.1 | 申请日: | 2019-07-31 |
公开(公告)号: | CN112567493A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 任伟明;刘学东;胡学让;陈仲玮 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | H01J37/28 | 分类号: | H01J37/28;H01J37/04;H01J37/153;H01J37/05 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;杨飞 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了用于在多束装置中观察样品的系统和方法。一种带电粒子光学系统可以包括:偏转器,其被配置为形成带电粒子源的虚像;和转印透镜,其被配置为在图像平面上形成带电粒子源的实像。图像平面可以至少形成在光束分离器附近,该光束分离器被配置为分离由源生成的初级带电粒子和由初级带电粒子与样品的交互而生成的次级带电粒子。图像平面可以形成在光束分离器的偏转平面处。多束装置可以包括带电粒子色散补偿器以补偿光束分离器的色散。在转印透镜与带电粒子色散补偿器之间,图像平面可以被形成为与光束分离器相比更靠近转印透镜。 | ||
搜索关键词: | 用于 带电 粒子束 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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