[发明专利]方法和测量环境、待测试的装置在审
| 申请号： | 201980054739.1 | 申请日： | 2019-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN112639493A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·赫斯腾;保罗·西蒙·霍特·莱瑟;拉梅兹·阿斯卡;莱塞克·拉斯基科夫斯基;马库斯·格罗斯曼;马库斯·兰德曼 | 申请（专利权）人： | 弗劳恩霍夫应用研究促进协会 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 潘剑颖 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于评估具有至少一个天线阵列的装置的方法，所述装置被配置为使用天线阵列形成多个通信波束方向图，所述方法包括：将装置定位在装置周围的测量环境中或移动/切换测量环境中的探测/链路天线，所述测量环境适于测量波束方向图；并控制所述装置以形成多个通信波束方向图中的预定义波束方向图。所述方法包括：使用测量环境和/或装置来测量预定义波束方向图。 | ||
| 搜索关键词： | 方法 测量 环境 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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