[发明专利]升降通道内测量系统有效
| 申请号： | 201980055161.1 | 申请日： | 2019-10-07 |
| 公开（公告）号： | CN112585076B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 波田野利昭;松家大介;服部诚;浜田悠太;田口博文;伊藤雅人 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立大厦系统 |
| 主分类号： | B66B7/00 | 分类号： | B66B7/00;G01B11/24;G01C15/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;范胜杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种在设置电梯前对电梯的升降通道内的尺寸进行自动测量并降低作业人员的劳力的升降通道内测量系统。本发明的升降通道内测量系统具有：基准激光装置，其设置在电梯的升降通道的天花板或上部的结构物上，向最下部照射激光；移动测量装置，其具有测量升降通道内的水平方向的尺寸的平面测量装置；移动装置，其设置在升降通道的天花板或上部的结构物上，使移动测量装置升降，移动测量装置具有：基准激光检测装置，其检测从基准激光装置照射的激光；以及姿势检测装置，其检测自身的姿势。 | ||
| 搜索关键词： | 升降 通道 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立大厦系统，未经株式会社日立大厦系统许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980055161.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于氮氧化物的选择性催化还原(SCR)的催化剂
- 下一篇：显示处理电路系统
