[发明专利]多片式单层辐射探测器在审

专利信息
申请号: 201980058844.2 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN112673285A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: J·W·M·雅各布斯;R·K·O·贝林;R·斯特德曼布克;G·福格特米尔;O·J·维默斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/24;G01T1/29
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 孟杰雄
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种辐射探测器(100),包括:i)衬底(110);ii)传感器,其被耦合到所述衬底,所述传感器包括传感器像素的第一阵列(120)、信号读出元件的第二阵列(130)和电子电路,所述电子电路被配置为基于从所述信号读出元件接收的信号来提供图像数据;iii)换能器,其被耦合到所述衬底和所述传感器,所述换能器包括子像素的第三阵列(140),其中,至少两个子像素被分配给一个传感器像素;其中,所述信号读出元件的第二阵列和所述子像素的第三阵列彼此对应;其中,所述子像素中的每个包括辐射转换材料。
搜索关键词: 多片式 单层 辐射 探测器
【主权项】:
暂无信息
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