[发明专利]检测装置、测定系统、监视系统以及程序在审
申请号: | 201980060127.3 | 申请日: | 2019-07-19 |
公开(公告)号: | CN112689766A | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 根武谷吾 | 申请(专利权)人: | 高超健康实验室株式会社 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;A61B5/0295;A61B5/113 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种检测装置、测定系统、监视系统以及程序,该检测装置具备:基板;设置于基板的正电极和负电极;电场产生电路,其向正电极与负电极之间供给电流或电压,来从基板的一个第一面产生电场;保护电极,其设置在与正电极及负电极相比离第一面更远的位置,且隔着绝缘物与正电极及负电极中的至少一方相向;电位调整电路,其使对正电极和负电极中的对应于保护电极的电极施加的电位与保护电极的电位为相同电位;以及半导体元件,其输出同正电极与负电极之间的电场强度对应的电场强度检测值。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 测定 系统 监视 以及 程序 | ||
【主权项】:
暂无信息
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