[发明专利]分光分析用光源、分光分析装置以及分光分析方法在审
| 申请号： | 201980061103.X | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN112752967A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 山田刚;横山拓马 | 申请（专利权）人： | 优志旺电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/3563;G01N21/3577;G01N21/359 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 任玉敏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的课题在于提供一种利用超连续光在1100nm～1200nm的波长范围对固相试样或液相试样进行分光分析时的最适合的结构。通过对来自脉冲激光源(1)的光通过非线性元件(2)产生非线性效应而生成的包含1100nm以上且1200nm以下的波长范围的超连续光通过脉冲扩展元件(3)进行脉冲拉伸，并照射到固相或液相的试样(S)。在超连续光中，1脉冲内的经过时间与波长以1比1对应，运算单元(5)基于来自接收透过了试样(S)的光的受光器(4)的输出的时间变化计算光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 分析 用光 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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