[发明专利]天线性能测试仪在审
| 申请号： | 201980061714.4 | 申请日： | 2019-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN112805574A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 朴钟浩;白亨一;李灿雨 | 申请（专利权）人： | 阿莫技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 梁倩;马芬 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种天线性能测试仪，该天线性能测试仪包括：水平转子(200)，该水平转子可围绕轴部(110)旋转，DUT保持器(300)可拆卸地联接到该轴部；以及竖向转子(500)，基准天线保持器(400)可拆卸地固定到该竖向转子，并且该竖向转子与DUT保持器(300)的侧表面间隔开，垂直于水平转子(200)安装，并且能够围绕位于该竖向转子的中心处的虚拟中心点旋转。本发明的优点在于：与经测试设备相距恒定距离的基准天线可以对射频进行测量，同时在所有方向上相对于经测试设备进行发送和接收，并且能够根据待测量的频率进行扩展和更换；并且使射频测量时的反射波的影响最小化，并因此可以在吸波暗室或者甚至在半吸波暗室中简单地测试天线性能。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 性能 测试仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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