[发明专利]测定装置在审
| 申请号： | 201980066607.0 | 申请日： | 2019-10-01 |
| 公开（公告）号： | CN112840208A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 宍户英明;池田隆之 | 申请（专利权）人： | 株式会社半导体能源研究所 |
| 主分类号： | G01N29/44 | 分类号： | G01N29/44;G01N29/04;G01N29/36 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 减少测定装置的成本。使测定装置的结构简化。提供一种能够以更高的精度进行测定的测定装置。测定装置(10)包括发送部(13)、接收部(14)、控制部(11)及显示部(15)。控制部包括存储部(21)及运算部(22)。发送部具有输出用来在探针(40)中产生超声波(51)的脉冲信号的功能。接收部具有根据从探针输入的输入信号生成具有第一模拟数据(D1)的第一信号并将其输出到控制部的功能。存储部具有容纳第一模拟数据的功能。运算部具有根据存储部所保持的第一模拟数据生成向显示部输出的图像信号(S0)的功能。显示部具有根据图像信号显示图像的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 | ||
【主权项】：
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