[发明专利]运送装置、以及具备其的检体分析系统、检体前处理装置在审
申请号: | 201980067506.5 | 申请日: | 2019-11-07 |
公开(公告)号: | CN112840214A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 青山康明;小林启之;金子悟;玉腰武司;星辽佑;神原克宏;渡边洋;鬼泽邦昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/04 | 分类号: | G01N35/04;B65G54/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提出了运送装置、以及具备其的检体分析系统、检体前处理装置。具备:具有至少1个以上永磁铁(10)的被运送物;具有包含第2磁性体的磁芯(22)以及在磁芯(22)的外周卷绕的绕组(21)的磁极(25);对磁极(25)的绕组(21)提供电流的驱动电路(50);检测流过绕组(21)的电流值的电流检测部(30);根据由电流检测部(30)检测到的电流值来估计永磁铁(10)的位置并根据估计的永磁铁(10)的位置信息来控制从驱动电路(50)提供到绕组(21)的电流值的运算部(40)。 | ||
搜索关键词: | 运送 装置 以及 具备 分析 系统 检体前 处理 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201980067506.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。