[发明专利]用于毫米波天线的自辐射环回测试规程有效
| 申请号： | 201980069073.7 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN112913161B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | G·维尔玛;D·柯林斯;R·温德兰;P·德什潘德;G·辛哈尼亚;K·蒙科布罗摩克里希南;J·卡尔;A·巴塔查里亚;D·费纳格斯 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B17/10;H04B17/14;H04B17/17;H04B17/29;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈炜;亓云 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了用于自动测试极高频设备的方法和系统。被测设备(DUT)被设置为处于同时传送和接收模式。DUT从测试单元接收较低频射频(RF)信号，并且将该较低频RF信号上变频为较高频RF信号。DUT使用第一天线来传送该较高频RF信号，并且使用第二天线来接收该较高频RF信号。DUT将接收到的较高频RF信号下变频为收到测试RF信号，并且将收到测试RF信号提供给测试单元以用于将从收到测试信号推导出的测量与针对该DUT的设计规范进行比较。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 毫米波 天线 辐射 测试 规程 | ||
【主权项】：
暂无信息
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