[发明专利]用于测量样品对激光发射的吸收的系统在审

专利信息
申请号: 201980070967.8 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN113056677A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 亚历山大·达齐 申请(专利权)人: 法国国家科学研究中心;巴黎萨克雷大学
主分类号: G01Q30/02 分类号: G01Q30/02;G01N21/35;G01Q60/32
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 王建国;李琳
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于测量样品对激光辐射的吸收的系统(10),该系统包括:·(i)脉冲激光源(2),其适合以重复频率fl发射脉冲,并布置成照亮样品;·(ii)AFM探针,其布置成能够放置成在一侧上与样品表面区域(3)接触,AFM探针具有在频率fm下的机械共振模式;以及·(iii)检测器(8),其配置成测量由于样品表面区域(3)吸收激光辐射而引起的AFM探针的振荡的振幅,其特征在于,该系统还包括设计成在频率fp下使样品位移的平移系统。
搜索关键词: 用于 测量 样品 激光 发射 吸收 系统
【主权项】:
暂无信息
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