[发明专利]膜缺陷检查方法及膜缺陷检查装置在审

专利信息
申请号: 201980071417.8 申请日: 2019-12-03
公开(公告)号: CN113164878A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 渡边桂史;西本信太郎;上中哲也;赵芳;松永晃 申请(专利权)人: 株式会社久保田
主分类号: B01D65/10 分类号: B01D65/10;G01M3/00
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 刘煜
地址: 日本国大阪府大阪*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种可自动化检测过滤膜的断裂,且能够适当的检测膜组件有无断裂、密封不良的膜缺陷检查方法。一种膜组件组的膜缺陷检查方法,该膜组件组在气体检测配管的下方并列地连接有多个膜组件,该气体检测配管与被供给原水的膜组件的一次侧空间或原水被膜过滤后形成的处理水被取出的膜组件的二次侧空间连通,该膜组件组的膜缺陷检查方法具备:气体压入工序,在气体检测配管被水充满了的状态下,向膜组件的与气体检测配管所连通的所述一次侧空间或二次侧空间相反的空间压入气体;以及振动检测工序,所述气体检测配管具有向外侧突出的突出部,通过使振动传感器与所述突出部接触来检测所述气体检测配管的振动。
搜索关键词: 缺陷 检查 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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