[发明专利]使用光子计数光电检测器以检测寿命的系统及方法在审
| 申请号： | 201980071659.7 | 申请日： | 2019-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN112930476A | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 班杰明·西普里亚尼 | 申请（专利权）人： | 宽腾矽公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;C12Q1/6869 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 谭营营;胡彬 |
| 地址： | 美国康*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述使用被配置以执行光子计数的光电检测器来检测发光分子的寿命的系统及方法。所述系统及方法可涉及用于检测从可包含所述发光分子的样本发射的光子的光电检测器阵列及与该光电检测器阵列相关联的检测电路。该检测电路可被配置以在至少第一时间周期及第二时间周期期间计数该光电检测器阵列中的光电检测器处的入射光子数量。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 光子 计数 光电 检测器 检测 寿命 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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