[发明专利]用于分析物质的设备和方法在审
| 申请号： | 201980072433.9 | 申请日： | 2019-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN112955075A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 乌韦·施里克;威尔弗里德·诺埃尔;托尔斯腾·卢宾斯基 | 申请（专利权）人： | 迪亚蒙泰克股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/145 | 分类号： | A61B5/145;G01H9/00;A61B5/01;G16H20/60 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;洪欣 |
| 地址： | 德国柏林*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于分析物质的装置，包括：‑测量主体(1,1a)，其具有测量表面(2)并且在所述测量表面的区域中至少部分地与所述物质(3)接触以进行测量；激光装置(4)，其特别地具有量子级联激光器(QCL)、可调谐QCL和/或激光阵列，优选QCL阵列，以产生具有不同波长的一个或多个激发束(10)，优选处于红外或中红外光谱范围内，所述激发束(10)被引导至所述物质(3)；以及至少部分地集成在所述测量主体(1,1a)中或与所述测量主体(1,1a)连接的检测设备(5,6,7)，其包括以下：·用于相干检测光(11)的源(5)以及·与用于所述检测光的源可结合或与用于所述检测光的源连接并且引导所述检测光的第一光波导结构(6)，其折射率至少分段地取决于温度和/或压力，其中所述第一光波导结构具有至少一段(9)，在所述段(9)中光强度取决于由于温度或压力的变化在所述第一光波导结构(6)的至少一部分中的所述检测光的相移。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 物质 设备 方法 | ||
【主权项】：
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