[发明专利]3D IC及可配置ASIC的纳米制造和设计技术在审

专利信息
申请号: 201980073188.3 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN112970107A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 希德加塔·V·斯林瓦森;帕拉斯·阿杰伊;阿西姆·赛亚尔;马克·麦克德莫特;杰迪普·库尔卡尼 申请(专利权)人: 德克萨斯大学系统董事会
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L21/301;H01L21/98;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 关越
地址: 美国德克萨*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本技术的多个实施例提供了超高密度异质集成,其通过纳米精度的取放组装实现。例如,一些实施例提供了使用预制块(PFB)的模块化组装技术的集成。这些PFB可在一个或多个源晶圆上制造。然后,可以采用取放技术将PFB选择性地布置在目标晶圆上,从而可以高效制造纳米级对准的3D堆叠集成电路(N3‑SI)和微米级模块化组装式ASIC(M2A2)。一些实施例包括采用取放组装来构建尺寸任意大于标准光刻场尺寸26×33mm的构造半导体器件的系统和技术。
搜索关键词: ic 配置 asic 纳米 制造 设计 技术
【主权项】:
暂无信息
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