[发明专利]使用光子计数事件进行相衬成像的x射线成像系统

摘要

提供了一种x射线成像系统(100)，该系统包括x射线源(10)和相关联的x射线检测器(20)，其中，该x射线检测器(20)是使得能够检测光子计数事件的光子计数x射线检测器。该x射线成像系统(100)被配置用于使得能够基于检测到的光子计数事件来获取至少一个相衬图像。该x射线检测器(20)基于多个x射线检测器子模块，也称为晶片，每个x射线检测器子模块包括检测器元件，其中，这些x射线检测器子模块以边缘式几何结构定向，其边缘指向该x射线源，从而使x射线通过边缘进入。每个x射线检测器子模块或晶片具有厚度，其两个相对侧具有不同电势，以使得电荷能够朝向布置这些检测器元件的一侧漂移，这些检测器元件也称为像素。该x射线成像系统(100)进一步被配置为：确定该x射线检测器的x射线检测器子模块或晶片中的电荷扩散的估计或度量，该电荷扩散源自康普顿相互作用或通过与入射x射线光子相关的光电效应的相互作用；并且基于所确定的电荷扩散的估计或度量来确定该入射x射线光子在该x射线检测器子模块中的相互作用点的估计。