[发明专利]用于筛选容易出现缺陷的存储器块的基于度量的反应性读取在审
| 申请号： | 201980074189.X | 申请日： | 2019-10-01 |
| 公开（公告）号： | CN112997254A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | H·R·桑吉迪;V·P·拉亚普鲁;K·K·姆奇尔拉;J·黄;罗贤钢;A·马尔谢 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C16/26 | 分类号： | G11C16/26;G11C16/10;G11C16/04 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 各种应用可包含用于抢先检测存储器装置中的容易出现缺陷的存储器块并且在这些存储器块发生故障并触发数据丢失事件之前处理这些存储器块的设备及/或方法。基于存储器操作的度量可用于促进所述存储器块的检查。可跟踪与存储器块上的存储器操作相关联的一或多个度量并且可产生每个度量的Z分数。响应于度量的Z分数与所述度量的Z分数阈值的比较，可执行操作以控制从所述比较开始的所述存储器块的可能引退。公开了另外的设备、系统及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 筛选 容易 出现 缺陷 存储器 基于 度量 反应 读取 | ||
【主权项】：
暂无信息
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