[发明专利]使用具有多个光谱仪的系统进行测量在审
| 申请号： | 201980075161.8 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN113039415A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 詹姆斯.艾勒森;哈维尔.米格尔桑切斯 | 申请（专利权）人： | ams传感器新加坡私人有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邓亚楠 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种示例系统包括第一光谱仪、第二光谱仪以及可通信地耦合到第一光谱仪和第二光谱仪的电子控制设备。第一光谱仪可操作以使用第一光源朝着第一光谱仪和第二光谱仪之间的样本区域发射第一光。第一光谱仪还可操作以使用第一光电检测器测量从样本区域中的对象反射的第一反射光。第二光谱仪可操作以使用第二光电检测器测量透射通过对象的第一透射光。电子控制设备可操作以基于测量的第一反射光或测量的第一透射光中的至少一个来确定与对象对应的光的光谱分布。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 具有 光谱仪 系统 进行 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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