[发明专利]用于评估用于探测碳黑的传感器的功能能力的方法在审
申请号: | 201980075755.9 | 申请日: | 2019-09-16 |
公开(公告)号: | CN113056663A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | C·M·席林;M·克伦克;K·赫韦格 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N33/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于评估用于探测碳黑的陶瓷传感器(10)的功能能力的方法,其中,所述传感器(10)包括两个能够暴露在废气中的、相互间隔开的测量电极(20)并且包括电阻加热元件(14),其中,所述方法包括以下步骤:激活所述电阻加热元件(14),以便加热所述传感器(10)并且以便所述两个测量电极(20)自洁式燃烧掉碳黑,随后停用所述电阻加热元件(14),随后等待预给定的第一持续时间和/或等待直到由所述传感器(10)接收的、代表所述传感器温度(34)的信号达到预给定的第一值,随后测量代表所述测量电极(20)之间的电阻的第一量值,随后基于代表所述测量电极(20)之间的电阻的所述第一量值来评估所述传感器(10)的功能能力。 | ||
搜索关键词: | 用于 评估 探测 碳黑 传感器 功能 能力 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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