[发明专利]混合X射线和光学探测器在审

专利信息
申请号: 201980078557.8 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN113167912A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: J·W·M·雅各布斯;R·D·J·H·霍夫欣克;B·亨德里克斯;R·F·J·霍尔特辉泽恩;W·吕腾 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/16 分类号: G01T1/16
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 孟杰雄
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种成像探测器。为了提供具有增强的光学成像能力和简单设计的混合X射线和光学探测器,成像探测器被提供用于捕获光学成像数据和X射线成像数据。所述成像探测器包括基板、光敏传感器、X射线闪烁体和光学部件装置的阵列。所述光敏传感器包括在所述成像探测器上分布的传感器像素。所述X射线闪烁体被配置为将入射X射线辐射的能量转换为光子。每个光学部件装置包括被配置用于朝向所述光敏传感器引导入射光学辐射的至少一个光学部件。所述传感器像素包括光学像素,每个与相应光学部件装置耦合以接收所述入射光学辐射,从而生成所述光学成像数据。所述传感器像素包括X射线像素,其与所述X射线闪烁体耦合以接收转换的光子,从而生成所述X射线成像数据。
搜索关键词: 混合 射线 光学 探测器
【主权项】:
暂无信息
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