[发明专利]利用静电线性离子阱同时分析多个离子的设备和方法在审
| 申请号： | 201980079672.7 | 申请日： | 2019-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN113228226A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | M·F·贾罗德;D·博塔马宁科 | 申请（专利权）人： | 印地安纳大学理事会 |
| 主分类号： | H01J49/02 | 分类号： | H01J49/02;H01J49/42 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 史婧;王丽辉 |
| 地址： | 美国印*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 电荷检测质谱仪可以包括：离子源；静电线性离子阱（ELIT），其包括设置在同轴对准的一对离子镜之间的电荷检测圆筒；用于在离子镜内选择性地建立电场的装置，离子镜被配置成使在ELIT中被俘获的离子每次通过电荷检测圆筒时在离子镜之间来回振荡；以及用于控制进入ELIT的离子束的轨迹、以使随后被俘获的离子以不同的平面离子振荡轨迹振荡或者以不同的圆筒离子振荡轨迹振荡的装置，这些平面离子振荡轨迹围绕纵向轴线彼此成角度地偏移，其中每个平面离子振荡轨迹在每个离子镜中沿着纵向轴线延伸并与纵向轴线交叉，所述不同的圆筒形离子振荡轨迹围绕纵向轴线彼此径向偏移，以形成嵌套的圆筒形轨迹，每个圆筒形轨迹沿着纵向轴线延伸。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 静电 线性 离子 同时 分析 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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