[发明专利]包括多个传感器的光谱学装置的校准方法和从至少两个经校准光谱学装置获得的光谱信息的传递方法在审
| 申请号： | 201980085558.5 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN113227732A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | R·M·达科斯塔马丁斯;P·A·达席尔瓦豪尔赫 | 申请（专利权）人： | 伊耐斯克泰克-计算机科学与技术系统工程研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G06K9/00;G01J3/36 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 王艳波;王珺 |
| 地址： | 葡萄牙*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及校准光谱信息/光谱学装置的领域，诸如校准由高分辨率电磁光谱、如激光诱导击穿光谱(LIBS)组成的光谱信息。本发明的目的是一种包括多个传感器的光谱学装置的校准方法和一种用于传递从第一光谱学装置和第二光谱学装置获得的光谱信息的方法。本发明的方法允许得到来自所述电磁光谱的准确限定的光谱线并且在两个不同位点获得电磁光谱，其中两个不同的光谱学装置和物理样本仍然提供在此类光谱学装置中的每一个中获得的电磁光谱之间的可靠比较。 | ||
| 搜索关键词： | 包括 传感器 光谱 装置 校准 方法 至少 两个 获得 信息 传递 | ||
【主权项】：
暂无信息
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