[发明专利]基于杂散光的范围识别光学检测器系统中的缺陷在审
| 申请号： | 201980086953.5 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN113261278A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | C.D.卢;M.里内哈特;V.格雷布 | 申请（专利权）人： | 伟摩有限责任公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N21/235 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 金玉洁 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 示例实施例涉及基于杂散光的范围识别光学检测器系统中的缺陷。示例实施例包括方法。该方法包括使用光学检测器系统捕获包括明亮对象的场景的图像。该方法也包括确定明亮对象在图像中的位置。此外，该方法包括基于明亮对象在图像中的位置，确定在图像中表示的来自明亮对象的杂散光的范围。另外，该方法包括通过将在图像中表示的来自明亮对象的杂散光的范围与杂散光的预定阈值范围进行比较，确定光学检测器系统中是否存在一个或多个缺陷。杂散光的预定阈值范围对应于杂散光的预期范围。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 散光 范围 识别 光学 检测器 系统 中的 缺陷 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于伟摩有限责任公司，未经伟摩有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980086953.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：游戏系统、处理方法以及信息存储介质
- 下一篇：缝纫针保持装置
