[发明专利]低发射覆层以及离子植入器在审

专利信息
申请号: 201980087007.2 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN113228225A 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 朱利安·G·布雷克;法兰克·辛克莱 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: H01J37/317 分类号: H01J37/317;C23C14/32;H01J37/147
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 王蕊;臧建明
地址: 美国加州圣塔克拉尔,鲍尔斯*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 公开一种离子植入器。所述离子植入器可包括束线,所述束线限定围绕空腔的内壁,所述空腔被布置成传导离子束。所述离子植入器也可包括低发射嵌件,所述低发射嵌件设置在所述内壁上并且还包括12C层,所述12C层具有面向所述空腔的外表面。
搜索关键词: 发射 覆层 以及 离子 植入
【主权项】:
暂无信息
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