[发明专利]低放大率暗场显微镜下的可扩增纳米颗粒增强的定量散射测定有效

专利信息
申请号: 201980087448.2 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN113227843B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 胡晔;孙大利;C·里昂 申请(专利权)人: 亚利桑那州立大学董事会
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00;G02B21/02;G02B21/06;G02B21/10;G01N21/00;G01N21/01;G01N33/00;G01N33/48
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 姚远
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及用于产生暗场图像的低放大率暗场显微镜系统和方法。所述方法包含:将生物样本转移到样品板的表面;以及使用选自以下的一个或多个预处理步骤对所述生物样本进行预处理:(1)使用加热装置加热所述生物样本;(2)使用超声换能器和超声发生器施加超声能量;以及(3)用金属纳米颗粒掺杂所述生物样本。在预处理之后,所述方法包含使用暗场显微镜对所述样品板上的所关注区域所述生物样本进行成像,以生成所述生物样本的暗场图像。
搜索关键词: 放大率 暗场 显微镜 扩增 纳米 颗粒 增强 定量 散射 测定
【主权项】:
暂无信息
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