[发明专利]并行纹理采样在审
| 申请号： | 201980087797.4 | 申请日： | 2019-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN113302658A | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 拉里·西勒 | 申请（专利权）人： | 脸谱科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T11/40 | 分类号： | G06T11/40;G06T11/00;G06T1/60;G06T15/04 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在一个实施例中，计算系统可以接收组织成纹理元素阵列的多个纹理元素，该纹理元素阵列包括多个子阵列。该系统可以确定多个纹理元素子集，其中每个子集中的纹理元素在其相应的子阵列中具有相同的位置。系统可以将纹理元素子集分别存储到多个缓冲区块中，每个缓冲区块存储一个纹理元素子集。系统可以从缓冲区块中检索采样纹理元素阵列，用于并行确定多个采样点的像素值。采样纹理元素阵列中的每个纹理元素可以从不同的缓冲区块中检索。 | ||
| 搜索关键词： | 并行 纹理 采样 | ||
【主权项】：
暂无信息
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