[发明专利]示差折光率的测定方法、测定装置以及测定程序在审
| 申请号： | 201980095200.0 | 申请日： | 2019-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN113692531A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 茂木智博;桑岛幹 | 申请（专利权）人： | 日本分光株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;B01J20/291;G01N30/74 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 使用具备双流类型的示差折光率检测部(RI检测部)的分析装置来使RI检测部的输出信号的噪声减少的方法如下：使用试样用泵(21)向试样用池(51)输送试样液，使用参照用泵(22)向参照用池(52)输送参照液，并通过光检测器(53)检测依次透过两个池(51)、(52)的光的行进方向的变化。在开始进行RI测定前，调整试样用泵(21)和参照用泵(22)的相位差。也就是说，调整两个泵(21)、(22)的相位差，以使由于来自试样用泵(21)的脉动流在试样用池(51)内传播而在光检测器(53)的输出信号中产生的噪声与由于来自参照用泵(22)的脉动流在参照用池(52)内传播而在光检测器(53)的输出信号中产生的噪声相抵消。 | ||
| 搜索关键词： | 折光 测定 方法 装置 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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