[发明专利]一种台阶区形成方法和一种半导体器件的制造方法有效
申请号: | 202010000482.6 | 申请日: | 2020-01-02 |
公开(公告)号: | CN111162081B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 阳涵;曾凡清;董明;张磊;周玉婷;汤召辉 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L27/11526;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11575;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人: | 陈敏 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种台阶区形成方法和一种半导体器件的制造方法,用于在基底上蚀刻成形N个连续的基底台阶,设定N为大于2的自然数,且待成形基底台阶自下而上依次为第1基底台阶至第N基底台阶,形成方法包括以下过程:在基底表面上设置光阻胶层;在光阻胶层上制作N‑1个光阻胶台阶,N‑1个光阻胶台阶一一对应覆盖至第2基底台阶至第N基底台阶待成形区域基底表面上的光阻胶台阶;修剪去除光阻胶台阶的第i级台阶;基于修剪后的光阻胶台阶对基底进行蚀刻;按i值由小到大的顺序循环执行修剪和蚀刻步骤,直至基底上形成N个基底台阶。本发明方法光阻胶层修剪量仅为每层台阶光阻胶层厚,降低了光阻胶的层厚、减少光阻胶层形变、提升生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 台阶 形成 方法 半导体器件 制造 | ||
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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