[发明专利]一种台阶区形成方法和一种半导体器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 202010000482.6 申请日: 2020-01-02
公开(公告)号: CN111162081B 公开(公告)日: 2022-04-26
发明(设计)人: 阳涵;曾凡清;董明;张磊;周玉婷;汤召辉 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11526;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11575;H01L27/11582
代理公司: 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 代理人: 陈敏
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种台阶区形成方法和一种半导体器件的制造方法,用于在基底上蚀刻成形N个连续的基底台阶,设定N为大于2的自然数,且待成形基底台阶自下而上依次为第1基底台阶至第N基底台阶,形成方法包括以下过程:在基底表面上设置光阻胶层;在光阻胶层上制作N‑1个光阻胶台阶,N‑1个光阻胶台阶一一对应覆盖至第2基底台阶至第N基底台阶待成形区域基底表面上的光阻胶台阶;修剪去除光阻胶台阶的第i级台阶;基于修剪后的光阻胶台阶对基底进行蚀刻;按i值由小到大的顺序循环执行修剪和蚀刻步骤,直至基底上形成N个基底台阶。本发明方法光阻胶层修剪量仅为每层台阶光阻胶层厚,降低了光阻胶的层厚、减少光阻胶层形变、提升生产效率。
搜索关键词: 一种 台阶 形成 方法 半导体器件 制造
【主权项】:
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