[发明专利]磁存储器件在审
申请号: | 202010004334.1 | 申请日: | 2020-01-03 |
公开(公告)号: | CN111525025A | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 金洸奭;张荣万;皮雄焕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L43/08 | 分类号: | H01L43/08;H01L43/10;H01L43/12;H01L27/22 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 李娜 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在一个实施例中,提供了一种磁存储器件。所述磁存储器件包括:自由层结构,所述自由层结构具有可变的磁化方向。所述自由层结构包括:第一自由层,所述第一自由层是第一赫斯勒合金;耦合层,所述耦合层位于所述第一自由层上,所述耦合层包括金属氧化物层;和第二自由层,所述第二自由层位于所述金属氧化物层上,所述第二自由层是第二赫斯勒合金,所述第二赫斯勒合金不同于所述第一赫斯勒合金。所述磁存储器件还可以包括:被钉扎层结构,所述被钉扎层结构具有固定的磁化方向;以及隧道势垒层,所述隧道势垒层位于所述被钉扎层结构与所述自由层结构之间。 | ||
搜索关键词: | 磁存储器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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