[发明专利]一种缺陷复检系统及方法在审
| 申请号： | 202010006785.9 | 申请日： | 2020-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN111208140A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 肖超 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G05B19/05 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷复检系统及方法，包括：AOI检测线体控制模块LCS1、复检线体控制模块LCS2、AOI检测模块和复检模块；AOI检测线体控制模块LCS1用于控制AOI检测模块，并接收AOI检测结果；复检线体控制模块LCS2用于控制复检模块，并向复检模块发送触发指令；AOI检测模块，用于对面板进行缺陷检测，并将缺陷检测结果上传给线体控制模块LCS1；复检模块，用于从AOI检测线体控制模块LCS1获取缺陷检测结果，对所述缺陷检测结果进行复检；本发明根据上述复检系统，复检模块可以直接自动获取到AOI检测结果，提高了复检的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 复检 系统 方法 | ||
【主权项】：
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