[发明专利]测试电路及电路测试方法有效
| 申请号： | 202010008115.0 | 申请日： | 2020-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN111157881B | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 蒲迪锋 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 陈晓瑜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路，包括：若干级联的锁存器，第一个锁存器的D端与测试信号源通信连接，除第一个锁存器外的锁存器的D端与上一级锁存器的Q端通信连接；各锁存器的Q端与待测试电路的测试接口通信连接；各所述锁存器采用相同的时钟信号、时钟使能信号和复位信号。还提供一种电路测试方法，采用上述的测试电路，控制复位信号由高电平变为低电平，将各锁存器复位；控制使能信号源输出高电平；控制所述测试信号源输出预定信号；控制使能信号源输出低电平，将各所述锁存器的Q端锁定；将各锁存器的Q锁定的值输入待测试电路进行测试。本发明的测试电路及电路测试方法，免去了重新上电配置的过程，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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