[发明专利]用于执行辐射两步法测量的方法以及测量装置有效
| 申请号： | 202010013649.2 | 申请日： | 2020-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN111585668B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 文森特·阿巴迪;莫里茨·哈特内克;胡安-安琪儿·安东 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/12 | 分类号： | H04B17/12;H04B7/0413 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 王小衡;胡彬 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于对具有预定数量的天线(15)的被测设备(12)执行辐射两步法测量的方法，具有以下步骤：a)将被测设备(12)放置在定位器(20)上，b)使用至少一个链路天线(22)建立与被测设备(12)的通信，c)使用多个测量天线(24)测量被测设备(12)的天线方向图，其中，所述多个测量天线(24)包括比被测设备(12)的天线(15)的数量更大数量的测量天线(24)。此外，示出了测量装置(10)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 执行 辐射 步法 测量 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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