[发明专利]一种高稳定性低功耗Hf-Ge-Sb纳米相变薄膜及其制备方法与应用有效

专利信息
申请号: 202010015582.6 申请日: 2020-01-07
公开(公告)号: CN111211221B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 翟继卫;华思聪;沈波 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 顾艳哲
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种高稳定性低功耗Hf‑Ge‑Sb纳米相变薄膜及其制备方法与应用,纳米相变薄膜的化学通式为Hfx(Ge5Sb95)1‑x(0x0.3);制备方法为通过磁控溅射法将Ge5Sb95合金材料及Hf材料在基片上进行纳米量级复合,以形成Hfx(Ge5Sb95)1‑x(0x0.3)纳米相变薄膜;所制备的纳米相变薄膜可用于制备相变存储器。与现有技术相比,本发明中的纳米相变薄膜对环境友好,不含有毒元素Te,具有较高的结晶温度和结晶激活能以及较大的晶态电阻,同时保持纳秒级的相变时间,有利于实现高稳定性低功耗存储的PCRAM。
搜索关键词: 一种 稳定性 功耗 hf ge sb 纳米 相变 薄膜 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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