[发明专利]天线装置及测量方法有效
| 申请号： | 202010017004.6 | 申请日： | 2020-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN111490329B | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 丸尾友彦 | 申请（专利权）人： | 安立股份有限公司 |
| 主分类号： | H01Q1/22 | 分类号： | H01Q1/22;H01Q3/18;H01Q19/12;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李芳华 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够实现避免电波暗箱的大型化及依赖于被试验对象与测量用天线之间的距离的功耗的增大并且有效的杂散测量的天线装置及测量方法。天线装置(1)构成为具备：DUT扫描机构(56)，在OTA暗室(50)的内部空间(51)内，以具有天线(110)的DUT(100)为基准点中心进行全球面扫描；多个天线(6A、6B、6C、6D)，配置于从基准点到近场测量范围内的距离；及信号分析装置(30A、30B、30C、30D)，在执行全球面扫描的过程中，根据从正在收发规定频带的无线信号的天线(110)辐射的杂散频带的无线信号的基于天线(6A、6B、6C、6D)的接收信号，分别进行与TRP(总辐射电力)相关的近场测量处理。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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