[发明专利]一种半导体芯片测试装置

摘要

本发明属于芯片测试技术领域，具体的说是一种半导体芯片测试装置；包括底座，所述底座后侧面固连有竖直滑轨，所述竖直滑轨前侧安装有水平滑轨，所述水平滑轨前侧安装有液压杆；本发明通过在底座顶部设置有保护板，对当前的测试点测试完成后，直接通过水平滑轨的工作，带动液压杆及底部的锥形探针移动，锥形探针在水平移动时会由于小圆台孔处的保护板的阻挡作用而向上移动，使锥形探针移动到保护板的顶部，并沿保护板上表面水平移动，锥形探针移动到下一个小圆台孔处后被回位弹簧推动到小圆台孔内，锥形探针在移动过程中不会剐蹭芯片上的元器件，避免了芯片上的元器件损坏，同时保证了测试的效率。