[发明专利]一种大视场高分辨率对地观测紫外成像光谱仪光学系统在审

专利信息
申请号: 202010019875.1 申请日: 2020-01-09
公开(公告)号: CN111208080A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 江宇;司福祺;周海金;薛辉;詹锴;黄书华;张泉;曾议 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33;G01N21/01;G01J3/12;G01J3/28
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种大视场高分辨率对地观测紫外成像光谱仪光学系统,包括前置望远成像系统和Offner‑Littrow光谱成像系统。前置望远成像系统包括凹面反射镜、转折镜、主镜、次镜、分色片、退偏器和光阑;Offner‑Littrow光谱成像系统具体由滤光片、入射狭缝、探测器、凸面光栅、凹面反射镜和像差校正透镜构成;凹面反射镜将对地观测的光信息引入仪器,经折转镜、退偏器后,由主、次镜聚焦后,通过分色片形成两个独立光谱通道(300nm‑400nm)、(395nm‑500nm)进行探测。各波段光分别聚焦光谱仪入射狭缝,经滤光片后由像差校正透镜准直到凹面反射镜,通过凸面光栅分光反射至凹面反射镜,再经像差校正透镜聚焦到探测器上。本发明保证测量准确性,使整体光学系统体积紧凑。
搜索关键词: 一种 视场 高分辨率 观测 紫外 成像 光谱仪 光学系统
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