[发明专利]一种高纯石墨杂质元素含量测定方法在审
申请号: | 202010020179.2 | 申请日: | 2020-01-09 |
公开(公告)号: | CN111024740A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 白万里;张莹莹;寇帆;孙珊珊;李波;马慧侠;刘静;彭展 | 申请(专利权)人: | 中国铝业股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/2202 | 分类号: | G01N23/2202;G01N23/223 |
代理公司: | 中国有色金属工业专利中心 11028 | 代理人: | 李子健;范威 |
地址: | 100082 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种高纯石墨杂质元素含量测定方法,涉及一种用于纯度大于99.95%的石墨、锂电池负极材料等高纯石墨类型中的杂质元素测定方法。其特征在于其检定过程是将样品制成压片,采用X射线荧光光谱法测定杂质元素含量。本发明的方法,仅需称量、研磨、压片、测定等操作,从制样到测定完毕,仅需10min左右,大大缩减湿法化学10h以上的测定时长,测定结果和ICP‑OES结果高度吻合;有效解决了湿法化学测定石墨杂质元素成分耗时长,满足不了工业生产及时性需要的问题,为高纯石墨连续性生产以及物料交割节省了宝贵时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 高纯 石墨 杂质 元素 含量 测定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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