[发明专利]一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法及系统有效
| 申请号： | 202010023011.7 | 申请日： | 2020-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN111175637B | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 舒淑保;姜一平 | 申请（专利权）人： | 深圳市正宇兴电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 | 代理人： | 钟斌 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明基于功能测试的光学SOC芯片测试系统，包括上位机系统以及硬件测试系统，所属硬件测试系统包括通信模块以及检测模块，所述检测模块由供电单元、PMU测试单元、FPGA功能测试单元、继电器矩阵单元以及光源控制单元组成；前述各组成单元上行通过总线与上位机系统连接，下行与待测试的光学传感器SOC芯片连接，硬件测试系统主要负责直流参数测试和感光逻辑测试。一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法，采用恒定电压、电流源为被测试器件施加精确的恒定电压或恒定电流；硬件上采用模块化结构，逻辑上利用FPGA功能测试单元针对功能进行测试，实现对光学SOC芯片的物理功能性测试和感光逻辑测试，测试成本大大低于传统混合信号测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 功能 测试 光学 soc 芯片 方法 系统 | ||
【主权项】：
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