[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010027005.9 申请日: 2020-01-10
公开(公告)号: CN112466828A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 胁冈宽之 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/498;H01L23/488;H01L21/603;H01L21/607
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 张世俊
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本实施方式的半导体装置具备第1衬底及第2衬底。第2衬底积层在第1衬底的第1面上,且具有与该第1面对向的第2面。多个第1端子设置在第1衬底的第1面上。多个第2端子设置在第2衬底的第2面上。多个金属部分别设置在多个第1端子与多个第2端子之间。在相对于第1与第2衬底的积层方向大致垂直的方向的截面中,多个第1端子或多个第2端子在朝向最邻近的另一第1或第2端子的第1方向上具有凹部,或者在与第1方向交叉的第2方向上具有凸部。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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