[发明专利]一种粗糙度检测方法及粗糙度检测装置在审
申请号: | 202010030006.9 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN111024006A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 张全旭 | 申请(专利权)人: | 北京智博联科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 北京邦创至诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11717 | 代理人: | 吴强 |
地址: | 100088 北京市西城区德*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明涉及粗糙度检测技术领域,尤其是涉及一种粗糙度检测方法及粗糙度检测装置。粗糙度检测方法包括以下步骤:预设标准水平面并选定激光入射角度α和标准高度,0°<α<90°;获取标准反射光线位于标准高度处的标准水平位置和检测水平位置;计算检测水平位置到标准水平位置的水平矢量位移Δs;计算待检测点与标准点之间的高度差 |
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搜索关键词: | 一种 粗糙 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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