[发明专利]一种基于矢量光场调制与图像处理的光波偏振态检测方法有效
申请号: | 202010033630.4 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN111256827B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 雷兵;高超;刘建仓;雷雨 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00 |
代理公司: | 国防科技大学专利服务中心 43202 | 代理人: | 王文惠 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明属于偏振检测技术领域,公开了一种基于矢量光场调制与图像处理的光波偏振态检测方法。待测光源发出的偏振态未知的光波经四分之一波片后入射至零级涡旋半波片,零级涡旋半波片将入射光场转化为矢量偏振光场,此矢量偏振光场经检偏器作用后形成亮暗呈楔形分布的光强图像。在检测时,通过前后两次调整四分之一波片的角度,使光强图像亮区分别到达两种特定的方位并采集光强图像,将两次采集的光强图像进行图像分析处理,并结合两次测量中四分之一波片的角度即可解算出待测光波的偏振态。本发明操作便捷、检测精度高,检测结果对光源的功率和波长变化不敏感。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 矢量 调制 图像 处理 光波 偏振 检测 方法 | ||
【主权项】:
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